电子元器件失效分析

Failure Analysis of Electronic Components

电子元器件失效分析目的是借助各种测试分析设备和技术确认电子元器件的失效现象，分辨其失效模式和失效机理，确定其最终的失效原因。

芯片失效分析常见的检测方法

Common detection methods for chip failure analysis

芯片失效是指芯片由于某种原因，导致其尺寸、形状、或材料的组织与性能发生变化而不能完满地完成指定的功能。